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日本三丰量具和仪器
更详细的产品分类
高度尺Height gage
显微镜
表面粗糙度仪
真园度仪
产品图片
产品名称/型号
产品简单介绍
日本三丰表面粗糙度仪(三丰表面光洁度仪)
SV-2000S2
采用陶瓷制作X轴驱动装置的导轨 X.Y轴上内建清晰玻璃刻度。(X轴清晰度:0.05μm,Y轴1μm) 装配有高精确度的测头 装配有多种功能,如:线性补偿功能,圆度补偿功能等 测头和滑道都可轻松替换 在SV-2000S2,SV-3000S4/H4/W4/S8/H8/W8这几个型号中,还提供具有“简便操作”功能的控制台。
带表带计数器高度尺(日本三丰)
192-130
产品名称:带表带计数器高度尺 产品型号:192-130 带有能够上下移动的表盘数显计数器使读数简便且无误差。 提供一个粗进给转轮。 硬质合金头划线器:07GZA000(毫米)或900258(英寸)
数显高度尺570系列(日本三丰)
数显高度尺570系列
产品名称:数显高度尺570系列 产品型号:570-228 能简便地测量小零件的高度。 清晰的液晶显示提供情报了精确到0.01mm的无误差读数。 带有一根粗圆柱的结实的结构提供了高可重复性测量。 微调架使滑杆能实现微进给。 硬质合金头划线器。 功能:置零、预置、数据保存、数据输出、-/+开关、英制/公制转换(只限英寸/毫米)、错误警告、低电压警告。 电源:一个SR44电池(938882)。
数显高度尺(日本三丰)
192-663
产品名称:数显高度尺 产品型号:192-663 万能多功能型。 提供一个硬质合金头的长划线器。 高硬度的结构保证了可重复测量性。 粗/精进给开关。 双向接触式信号测头是可选附件,可快速精确地测量台阶,内侧和外侧宽度。 带有SPC数据输出接口。
数显高度尺(日本三丰)
192-613
产品名称:数显高度尺 产品型号:192-613 操作简便的标准型。 双柱结构可保证高精度测量。 硬质合金头划线装置。 粗/精进给开关。 带有SPC数据输出接口
高度仪(日本三丰)
518-200
产品名称:高度仪 产品型号:518-200 新开发的具有同类产品中最高精度和分辨率的完全型号线性编码器,用于位置探测。 通过简单的图标键直接选择测量. 通过独特的测量方式(追踪测量探测圆的顶点),还可以测量内径/外径 不同型号的探针(可选)。 大屏幕的液晶显示器。 GO/NO-LED显示。 滑杆上升时,按钮/转轮操作。 标准配备数显输出和RS-232C输出接口。
数显高度仪518系列(日本三丰)
518-321
产品名称:高度仪 产品型号:518-904 高精度(2+L/600)和分辨率/可重复性0.1/0.5。 独特的全浮动/半浮动系统可以在保证精度的同时达到更快的测量速度 半自动测量时单键操作功能。 在图形界面上应用图标显示测量。 在重复测量情况下自动地按照测量步骤进行测。 在每一次测量中快速地GO/NG判断。 完全独一无二的充电电池包装和独立的充气系统设计。 24kg精巧的外型造就高灵活性。 由50个测量程序和60,000个测量数据形成的大记忆容量。 脱机状态部件设计。 RS-2
日本三丰工具显微镜
MF-UA17030TH/THD
明视场观察,正产像,杂散光少,图像清晰,视场宽阔。 长工作距离物镜,最大放大倍数可达200倍(总放大倍数:4000x) 采用与FS系列高级全相显微镜相同的无限远修正光学系统。 明/暗视场观察,偏光观察,微分干涉相衬(DIC)观察。 对大尺寸测量特别有利的载物台快速移动机构。 X轴与Y轴采用内置式零位设置开关(但Z轴为非内置式) 内向式四孔物镜转换器。 改善后的眼点位置,有利于消除疲劳。 可搭载视频装置,使系统升级为视频图像测量系统
日本三丰工具显微镜
MF-UA17030TH/THD
明视场观察,正产像,杂散光少,图像清晰,视场宽阔。 长工作距离物镜,最大放大倍数可达200倍(总放大倍数:4000x) 采用与FS系列高级全相显微镜相同的无限远修正光学系统。 明/暗视场观察,偏光观察,微分干涉相衬(DIC)观察。 对大尺寸测量特别有利的载物台快速移动机构。 X轴与Y轴采用内置式零位设置开关(但Z轴为非内置式) 内向式四孔物镜转换器。 改善后的眼点位置,有利于消除疲劳。 可搭载视频装置,使系统升级为视频图像测量系统
日本三丰工具显微镜
MF-UA1720TH/THD
明视场观察,正产像,杂散光少,图像清晰,视场宽阔。 长工作距离物镜,最大放大倍数可达200倍(总放大倍数:4000x) 采用与FS系列高级全相显微镜相同的无限远修正光学系统。 明/暗视场观察,偏光观察,微分干涉相衬(DIC)观察。 对大尺寸测量特别有利的载物台快速移动机构。 X轴与Y轴采用内置式零位设置开关(但Z轴为非内置式) 内向式四孔物镜转换器。 改善后的眼点位置,有利于消除疲劳。 可搭载视频装置,使系统升级为视频图像测量系统
表面粗糙度仪SJ-201(表面光洁度仪)
表面粗糙度SJ-201(表面光洁度仪)
日本三丰表面粗糙度仪,代替老的表面光洁度标准,根据使用场合不同,我们提供不同的产品。可用于检测不同形状表面的粗糙度,包括: 平面、外圆、内孔、凹槽及其他较难 测量的表面。 既可在车间现场使用,也适用于计量室和实验室。
日本三丰表面粗糙度仪(三丰表面光洁度仪)
SJ401/402
无闸检测仪和弧形表面裣功能使它能有效地评定圆柱体表面粗糙度 提供了同类产品中更优越的高精度测量 配备有名种各样符合ISO,DIN,ANSI和JIS准的粗糙度评估参数 特细的阶梯、直线度、波纹度均可用无导轨测量功能测出 测量数据通过一个RS-233C电缆由外部PC输出 带有粗糙度标准板 由数字过滤功能可得到全真的粗糙度分布图 自动校准功能
日本三丰表面粗糙度仪(三丰表面光洁度仪)
SV-2000S2//SV-3000S4/H4/W4/S8/H8/W8
采用陶瓷制作X轴驱动装置的导轨 X.Y轴上内建清晰玻璃刻度。(X轴清晰度:0.05μm,Y轴1μm) 装配有高精确度的测头 装配有多种功能,如:线性补偿功能,圆度补偿功能等 测头和滑道都可轻松替换 在SV-2000S2,SV-3000S4/H4/W4/S8/H8/W8这几个型号中,还提供具有“简便操作”功能的控制台。
日本三丰表面粗糙度仪(三丰表面光洁度仪)
SV-2000S2,SV-3000S4/H4/W4/S8/H8/W8
采用陶瓷制作X轴驱动装置的导轨 X.Y轴上内建清晰玻璃刻度。(X轴清晰度:0.05μm,Y轴1μm) 装配有高精确度的测头 装配有多种功能,如:线性补偿功能,圆度补偿功能等 测头和滑道都可轻松替换 在SV-2000S2,SV-3000S4/H4/W4/S8/H8/W8这几个型号中,还提供具有“简便操作”功能的控制台。
日本三丰表面粗糙度仪(三丰表面光洁度仪)
SV-3000/W4
采用陶瓷制作X轴驱动装置的导轨 X.Y轴上内建清晰玻璃刻度。(X轴清晰度:0.05μm,Y轴1μm) 装配有高精确度的测头 装配有多种功能,如:线性补偿功能,圆度补偿功能等 测头和滑道都可轻松替换 在SV-2000S2,SV-3000S4/H4/W4/S8/H8/W8这几个型号中,还提供具有“简便操作”功能的控制台。
日本三丰真园度仪(三丰圆度仪)
RA-116D /RA-114D
ROUNDPAK100数据处理软件,拥有在生产现场中进行几何测量所需的简便操作系统和先进的实验分析能力。 使用单键测量分析功能,可以在程序作业的过程中,进行临时测量。 测量数据可以存储在软盘和硬盘上。 可以轻松建测量、分析和打印输出程序的程序段。程序段及测量条件可以存储在软盘和硬盘上。 可以进行能量光谱分析、谐波分析和齿轮齿分析。 可以评价轴与轴之间、轴与截面之间的共轴性。 RA-116D拥有创新DAT(数字调整台)功能,可能轻松地进行工件的中心/水平调整。 根据工件形状和测量目的的不同,三丰公司还提供了丰富多样的备用测头可供选择。
日本三丰真园度仪(三丰圆度仪)
RA-114D
ROUNDPAK100数据处理软件,拥有在生产现场中进行几何测量所需的简便操作系统和先进的实验分析能力。 使用单键测量分析功能,可以在程序作业的过程中,进行临时测量。 测量数据可以存储在软盘和硬盘上。 可以轻松建测量、分析和打印输出程序的程序段。程序段及测量条件可以存储在软盘和硬盘上。 可以进行能量光谱分析、谐波分析和齿轮齿分析。 可以评价轴与轴之间、轴与截面之间的共轴性。 RA-116D拥有创新DAT(数字调整台)功能,可能轻松地进行工件的中心/水平调整。 根据工件形状和测量目的的不同,三丰公司还提供了丰富多样的备用测头可供选择。
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